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详细介绍
AB经典系列电子分析天平
精确、操作简便、性能可靠、经久耐用——这是对梅特勒-托利多AB经典系列天平zui恰当的评价。
● 采用单模块传感器技术，具有紧凑而坚固的结构和良好抗过载、抗冲击性能
● 采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT），有效消除环境温度变化对称量结果精确性的影响
● 采用亮背景液晶显示屏，方便用户在不同称量环境下读取称量结果
● 金属铸铝制成的防化防撞击机架，保证天平的长期使用
● 标配机架塑料保护罩，实现天平的快速清洁
● 可拆卸防风罩设计，避免散料样品的腐蚀
● 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
● 具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序
技术参数：
型 号 | AB135-S/FACT | AB265-S/FACT | AB54-S/FACT | AB204-S/FACT | AB204-S/FACT |
型 号 | AB135-S | AB265-S | AB54-S | AB104-S | AB204-S |
型 号 |
|
|
| AB104-L | AB204-L |
可读性mg | 0.01/0.1 | 0.01/0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
zui大称量值g | 31/120 | 61/220 | 51 | 110 | 220 |
重复性（s）mg | 0.03/0.1⑴ | 0.03/0.1⑴ | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
线性误差mg | 0.2⑵ | 0.2⑵ | 0.2 | 0.2 | 0.2 |
称盘尺寸（mm） | ￠80 | ￠80 | ￠80 | ￠80 | ￠80 |
防风罩有效高度（mm） | 237 | 237 | 237 | 237 | 237 |
外形尺寸（W×D×H） | 245×321×344mm | ||||
AB-L：外置砝码校准（需选购）；
AB-S：内置砝码校准；
AB-IC：内置砝码校准；
AB-S/FACT：采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT）。
（1）精细量程内10 g样品典型重复性：0.02mg ； （2）精细量程内10 g样品典型线性：0.03mg
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